PCT加速寿命老化试验箱

PCT加速寿命老化试验箱（外文名：Pressure Cooker Test），又称PCT高压加速老化试验机，是一种用于模拟高温、高湿及高压环境的可靠性测试设备。该设备主要用于评估电子元器件、半导体封装体等产品在严苛条件下的抗湿气能力、密封性能及加速老化寿命，核心应用包括检测湿气渗透导致的断路/短路故障、加速老化寿命试验以及密封性能检测 ，其应用领域还包括国防、航天、汽车部件、电子配件。

其温度范围常见为100℃~135℃，最高可达143℃，湿度范围为100%RH（饱和蒸汽），压力范围相对压力为0.0kg/cm²~2.8kg/cm²，对应绝对压力1.0kg/cm²~3.0kg/cm²，安全压力容量通常为4kg/cm²。控制精度方面，温度控制精度为±0.5℃，温度分布精度为±1.5℃，温度解析精度为0.1℃。内箱尺寸有多种型号，例如PCT-25内箱尺寸为∮250×450D mm，PCT-35为∮350×450D或500D mm，PCT-45为∮550×550D mm。材质方面，内箱通常采用SUS304或SUS316耐寒耐热不锈钢板 ；外箱采用SECC钢板或不锈钢板，并经过静电喷塑处理。加压时间从常压升至2.0kg/cm²约需30分钟。其他参数包括升温时间约为30~60分钟，温度均匀度可达±0.5℃或更好，温度波动度为±0.3℃。

PCT加速寿命老化试验箱符合JESD22-A102、IEC 60068-2-5等相关测试标准，广泛应用于半导体封装、汽车零部件、航空航天及新材料研发等领域。