HAST加速寿命试验箱

HAST加速寿命试验箱是一种用于加速寿命试验的设备，通过提升温度、电压及负荷等环境与工作应力，缩短电子元器件、机械零件、半导体等产品的寿命测试周期。其主要用于分析产品失效原因、磨损规律及寿命故障分布，适用于IC半导体、连接器、光伏组件等领域。

1.HAST加速寿命试验箱经过设计优化。

具备特制的试样架，可免去繁杂的接线作业。

2.该设备对应IEC60068-2-66条件，具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器。

3.采用7寸真彩式触摸屏，拥有250组12500段程序，具有USB曲线数据下载功能与RS-485通讯接口。

控制模式分为干湿球、不饱和、湿润饱和等三种。

4.采用高效真空泵，使箱内达到纯净饱和蒸汽状态。

内胆采用双层圆弧设计，可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击。

采用汽车级硅胶密封条。

5.具有缓降压、排气、排水功能，可控制试验结束后压力与温度的变化，以保证试验结果。

6.具备多项安全保护措施，可显示故障报警及其原因和排除方法。

整机配备超压、超温、过流、漏电、短路、箱门关闭异常、水箱缺水报警断电等多重安全保护装置，并具备紧急泄压、手动泄压及反压门锁等功能。

7.该设备可定制专用产品架。