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喷雾全自动激光粒度分析仪

更新时间:2023-10-18

简要描述:

LAP-S2000喷雾全自动激光粒度分析仪
我公司视“打造国产稳定的激光粒度仪器"为己任,以科技创品牌、质量闯市场、信誉赢天下为方针,全力打造超稳定、高性价比的国产激光粒度仪器。

LAP-S2000喷雾全自动激光粒度分析仪

我公司视“打造国产稳定的激光粒度仪器"为己任,以科技创品牌、质量闯市场、信誉赢天下为方针,全力打造超稳定、高性价比的国产激光粒度仪器。

LAP-S2000采用分体式设计,适用范围更加宽泛。性能更加稳定、量程更大、适应各种复杂的测试环境,同时LAP-S2000进行了防尘处理。

LAP-S2000喷雾激光粒度分析仪主要性能特点:

  LAP-S2000采用了分体式结构,可测试远距离样品, LAP-S2000采用了大平台,即使一体式使用也能满足0.1米到10米的距离上正常测试。

*的光路设计: LAP-S2000采用了夫琅禾费衍射原理和典型的平行光路设计,配备了大功率的半导体激光器;*的高密度探测单元,让LAP-S2000拥有了*的小颗粒测试能力,LAP-S20001μm2000μm内无缝测试。同时LAP-S2000又加入了光路自动调整装置,方便操作的同时又延长了仪器的适用寿命。

大功率半导体激光器:LAP-S2000采用了大功率的半导体激光器,增强了仪器的分辨能力,使小颗粒也无处藏身。

光路自动校对:LAP-S2000在喷雾粒度仪中加入了自动对中功能,LAP-S2000加入的光路自动调整系统,保证了仪器测量的稳定性、准确性。同时大量减少操作者的工作强度。

进口的镜头:LAP-S2000采用了日本佳能作为主镜头,畸变小成像高,接收端采用了直径150毫米大口径长焦距镜头,颗粒探测更加准确

超宽量程:LAP-S2000量程达到了1μm2000μm

辅光定位:LAP-S2000加入了辅光定位功能,定位时发射端两束激光同时发出,接收端双点吻合后接收端即可启动光路自动调整系统,大大简化了调整难度。

强大的分析软件:强大的分析软件可以随时记录所有激光束的内所有雾滴的粒度分布。在激光束内移动喷雾测试结果可以被连续记录和统计分析。


主要技术参数:

规格型号

LAP-S2000

执行标准

ISO 13320-1:1999;GB/T19077.1-2008

测试范围

1μm-2000μm

探测器通道数

86

准确性误差

<1%(国家标准样品D50值)

重复性误差

<1%(国家标准样品D50值)

进样方式

开放式

光路对中方式

自动对中,仪器自动调整光路,电脑软件一键自动完成

操作模式

软件操作、自动测试

仪器结构

分体式或导轨式可选

分体式导轨(选配)

分体式仪器,测试区域在6米以内可以选配导轨,光路更加稳定

激光器参数

LD泵浦激光器 λ= 532nm, 功率1-40mw可调

关键参数

测量区

分体式:仪器0.1到10米范围可正常测试

导轨式:仪器0.1到6米范围可正常测试

镜头

进口佳能高性能镜头

镜头保护

气幕气流式双重保护

进样方式

喷射(包含雾滴和固体粉末)

操作模式

电脑操作

尺寸

发射端尺寸:950*320*670

接收端尺寸:250*360*520

测试速度

<1min/

重量

25Kg



软件功能

分析模式

包括自由分布、R-R分布和对数正态分布、按目分级统计模式等,满足不同行业对被测样品粒度统计方式的不同要求

统计方式

体积分布和数量分布,以满足不同行业对于粒度分布的不同统计方式

统计比较

可针对多条测试结果进行统计比较分析,可明显对比不同批次样品、加工前后样品以及不同时间测试结果的差异,对工业原料质量控制具有很强的实际意义

自行DIY

用户自定义要显示的数据,根据粒径求百分比、根据百分比求粒径或根据

显示模板

粒径区间求百分比,以满足不同行业对粒度测试的表征方式。径距、一致性、区间累积等等

测试报告

测试报告可导出Word、Excel、图片(Bmp)和文本(Text)等多种形式的文档,满足在任何场合下查看测试报告以及科研文章中引用测试结果

多语言支持

中英文语言界面支持,还可根据用户要求嵌入其他语言界面。


测试报告:


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